ADwin-Systeme werden in verschiedenen Arten von Rastermikroskopen, z. B. Laser-, Raster-Tunnel-, Raster-Elektronenstrahl-, Raster-Kraft-, Focused-Ion-Beam- (FIB) oder Atomic-Force-Mikroskopen (AFM) zur Steuerung des Tasters und zur Erfassung der Oberflächenstruktur eingesetzt.
ADwin steuert über zwei analoge Ausgänge eine X-Y-Position an, gleichzeitig wird das reflektierte Licht über analoge Eingänge oder Zähler erfasst und das Ergebnis in einer Scan-Tabelle abgelegt. So entsteht im Mikrosekundenraster Punkt für Punkt und Zeile für Zeile ein 2D-Bild. Für räumliche Darstellungen wird über einen dritten analogen Ausgang mehrfach ein neuer Fokus angefahren und aus bis zu 100 X-Y-Scans ein 3D-Bild berechnet.
Unter Vakuumbedingungen kann ein mit mehreren tausend Atomen gefülltes Gasvolumen auf eine Temperatur von weniger als einem Millionstel Grad über dem absoluten Nullpunkt abgekühlt werden. Dies erreicht man mit intelligenten Verfahren der Laserkühlung und speziellen, magnetischen Atomfallen. ADwin-Systeme werden für die Steuerung solcher Atomfallen eingesetzt.
Jäger Computergesteuerte
Messtechnik GmbH
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